根據我國相關標準的定義，光電子器件（Optoelectronic Device）是指：具有光電特性的元件。包括但不限于激光二極管、發光二極管、光電二極管、雪崩光電二極管及由它們組成的組件或模塊統稱“光電子器件”。光電子器件的可靠性直接關乎著光通信設備的可靠性以及光通信網絡的可靠運行。為此在我國，國家標準和通信行業標準都對通信用光電子器件的可靠性方面做出了規范要求，現介紹如下。

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一、通用要求（GB）

在2007年11月14日國家批準發布了GB/T 21194-2007《通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求》，并于2008年5月1日開始實施。它是參照Telcordia GR-468-CORE：2004《通信設備用光電子器件可靠性一般要求》，在光電子器件評定的抽樣方案、光電特性參數測試、物理特性測試、機械完整性測試和加速老化等技術保持一致，在其他方面和文件結構上不同。

該標準規定了通信設備用光電子器件的術語、定義、可靠性評定的一般要求、試驗程序和光電子器件的評定方法。適用于通信設備用光電子器件，包括激光二極管、發光二極管、光電二極管、雪崩光電二極管及其它們的組件，其他類似器件可參照執行。該標準的主要內容是由5章所組成，其章、節名稱詳見下表1。若要詳細了解該國標具體內容的請查閱下附件1。

表1：GB/T 21194-2007的目錄

附件1：GB/T 21194-2007《通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求》

二、試驗方法（GB）

我國在2017年5月21日又批準發布了GB/T 33768-2017《通信用光電子器件可靠性試驗方法》，并于2017年12月1日起開始實施。該標準與GB/T 21194-2007形成配套。它也參照了Telcordia GR-468-CORE：2004及IEC的相關標準。

該標準規定了通信用光電子器件可靠性試驗方法的術語和定義、一般要求、詳細要求，包括試驗的目的、設備、條件、程序、檢驗及失效判據，適用于通信用光電子器件，其它領域的光電子器件也可參照使用。該標準的主要內容是由5章所組成，其章、節名稱詳見下表2；若要詳細了解該標準具體內容的請查閱下附件2。

表2：GB/T 33768-2017的目錄

附件2：GB/T 33768-2017《通信用光電子器件可靠性試驗方法》

三、試驗方法（YD）

工信部在2011年的12月20日首先發布了YD/T 2342-2011《通信用光電子器件可靠性試驗方法》，并于發布之日起實施。該標準也是參照了Telcordia GR-468-CORE：2004及IEC的相關標準而制定。

該標準規定了通信用光電子器件可靠性試驗方法的一般要求和詳細要求，包括：試驗目的、設備、條件、程序、檢驗及失效判據，適用于通信用光電子器件，包括但不限于激光二極管、發光二極管、光電二極管、雪崩光電二極管及由它們組成的組件或模塊，簡稱“光電子器件”，其他領域的光電子器件也可參照使用。該標準的主要內容是由5章所組成，其章、節名稱詳見下表3；若要詳細了解該標準具體內容的請查閱下附件3。

表3：YD/T 2342-2011的目錄

附件3：YD/T 2342-2011《通信用光電子器件可靠性試驗方法》

由上內容看出，GB/T 33768-2017與YD/T 2342-2011的內容及適用是基本相同的，應該說GB/T 33768-2017是YD/T 2342-2011的標準升格國家標準的最新版本，此時應執行的是國家標準。

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